服務熱線

021-54933058
網站導航
技術文章
當前位置:主頁 > 技術文章 > X射線熒光分析儀技術特點介紹

X射線熒光分析儀技術特點介紹

更新時間:2021-10-15 點擊次數:3205
  X射線熒光分析儀技術特點介紹:
 
  1、X射線熒光分析儀在測定微量成分時,由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調整出*具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
 
  2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾,從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
 
  3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由此產生了重疊峰。自行開發的軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。
 
  4、逃逸峰:由于采用的是Si針半導體探測器,因此當X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素的含量較高(能量也會相應的較高),其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。
 
  5、在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。

上海首放電子科技有限公司2024 版權所有 ©  備案號:滬ICP備16022078號-4 sitemap.xml 

地址:上海市閔行區古美路1471號華城廣場307室 郵件:8200@shsoly.com

主要經營產品:NIKKATO氧化鋁球,NIKKATO氧化鋯球,EKO熱導儀,PCP焚燒爐

關注我們

服務熱線

17317182621

掃一掃,關注我們

久久成本大片免费播放_人妻无码中文字幕一二三区_久久伊人dxj_2021国内精品久久久久精品